价格:¥360起

检测周期:5个工作日




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  • JEM 2100F参数:
  • 费用:300 检测周期:5天
  • 最大倍率:105万倍
  • 加速电压:200KV
  • 点分辨率:0.23 nm
  • 极限(信息)分辨率:0.1 nm
  • STEM分辨率:0.5-2.4nm
  • 最小束斑尺寸:2-5nm
  • 最大倾转角:±30°
  • 能谱仪元素分析范围:B5~U92
适用范围

JEM2100主要检测对象为生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域。可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息,同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征分析。对样品组织结构进行纳米尺度的微分析。高分辨晶格条纹像、选区电子衍射、会聚束电子衍射等。对纳米级的微区或晶粒的进行成分分析,可选择性的对样品进行点线面能谱扫描,获得元素在样品不同区域的分布情况。

送样要求
粉末样品:样品量≥2mg(磁性样品必须由承方制样)。
块体样品:样品尺寸≥3mm
液体样品:样品量≥0.5ml
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