- JEM-ARM300F参数：
- 加速电压：80—300kV
- HRTEM晶格分辨率：0.063nm（300KV）、0.136nm（60KV）
- STEM分辨率：0.063nm（300KV）、0.136nm（60KV）
- 能量分辨率：0.3ev（300KV）
- 样品台：最大样品倾斜角±70°
适用范围
JEM-ARM300F是一款原位双球差校正透射电镜，拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率（63pm）,标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式，通过STEM-ABF像能直接观察晶体样品中轻元素的原子阵列，还可以同时获取STEM-HAADF像，极大增强观察、分析能力。原子像，选区电子衍射，会聚束电子衍射；在原子尺寸的微区或晶粒的进行成分分析。
送样要求
- 粉末样品：样品量≥2mg（该机器不测试强磁样品）
- 液体样品：样品量≥0.5ml
- 固体样品：样品尺寸≥3mm
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