价格:¥5000元起

检测周期:10工作日




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  • JEM-ARM300F参数:
  • 加速电压:80—300kV
  • HRTEM晶格分辨率:0.063nm(300KV)、0.136nm(60KV)
  • STEM分辨率:0.063nm(300KV)、0.136nm(60KV)
  • 能量分辨率:0.3ev(300KV)
  • 样品台:最大样品倾斜角±70°
适用范围

JEM-ARM300F是一款原位双球差校正透射电镜,拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率(63pm),标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式,通过STEM-ABF像能直接观察晶体样品中轻元素的原子阵列,还可以同时获取STEM-HAADF像,极大增强观察、分析能力。原子像,选区电子衍射,会聚束电子衍射;在原子尺寸的微区或晶粒的进行成分分析。

送样要求
粉末样品:样品量≥2mg(该机器不测试强磁样品)
液体样品:样品量≥0.5ml
固体样品:样品尺寸≥3mm
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