- FEI Tecnai G2 F30参数：
- 最大倍率：105万倍
- 加速电压：50--300KV
- 点分辨率：0.20 nm
- 极限分辨率：0.14 nm
- STEM分辨率：0.19nm
- 最小束斑尺寸：0.2nm
- 物镜球差系数Cs：1.2nm
- 物镜色差系数Cc：1.2nm
- 样品台：普通、铍双倾
- 最大倾转角：±40°
- X射线能谱仪元素分析范围：B5～U92
- 能谱仪能量分辨率：130 eV
适用范围
Tecnai G2 F30 透射电子显微镜是一个真正多功能场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征分析。对样品组织结构进行纳米尺度的微分析。高分辨晶格条纹像、选区电子衍射、会聚束电子衍射等。对纳米级的微区或晶粒的进行成分分析，可选择性的对样品进行点线面能谱扫描，获得元素在样品不同区域的分布情况。
送样要求
- 粉末样品：样品量≥2mg（磁性样品须委托方制样）
- 块体样品：样品尺寸≥3mm
- 液体样品：样品量≥0.5ml
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