价格:360元起

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  • FEI Tecnai G2 F30参数:
  • 最大倍率:105万倍
  • 加速电压:50--300KV
  • 点分辨率:0.20 nm
  • 极限分辨率:0.14 nm
  • STEM分辨率:0.19nm
  • 最小束斑尺寸:0.2nm
  • 物镜球差系数Cs:1.2nm
  • 物镜色差系数Cc:1.2nm
  • 样品台:普通、铍双倾
  • 最大倾转角:±40°
  • X射线能谱仪元素分析范围:B5~U92
  • 能谱仪能量分辨率:130 eV
适用范围

Tecnai G2 F30 透射电子显微镜是一个真正多功能场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件,可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息,同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征分析。对样品组织结构进行纳米尺度的微分析。高分辨晶格条纹像、选区电子衍射、会聚束电子衍射等。对纳米级的微区或晶粒的进行成分分析,可选择性的对样品进行点线面能谱扫描,获得元素在样品不同区域的分布情况。

送样要求
粉末样品:样品量≥2mg(磁性样品须委托方制样)
块体样品:样品尺寸≥3mm
液体样品:样品量≥0.5ml
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