Tecnai G2 F30 透射电子显微镜是一个真正多功能场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件,可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息,同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征分析。对样品组织结构进行纳米尺度的微分析。高分辨晶格条纹像、选区电子衍射、会聚束电子衍射等。对纳米级的微区或晶粒的进行成分分析,可选择性的对样品进行点线面能谱扫描,获得元素在样品不同区域的分布情况。
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