价格:¥130起

检测周期:5个工作日




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  • SU8020参数:
  • 放大倍数:30倍-80万倍
  • 加速电压:0.5-30kKV
  • 点分辨率:二次电子图像分率:1.0 nm
  • 信号模式:二次电子、背散射
  • 倾转角:T: -5-70°,R:360°
  • 能谱仪元素分析范围:B5~U92
适用范围

SU8200配置了Lower、Up-per和Top三个Everhart-Thornley型探测器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多种信号,可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息,同时还可通过专用的背散射探头对金属、陶瓷样品的质厚衬度像进行进一步的表征分析,可用于纳米材料、金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观察,同时还可对材料断口和失效模式进行分析;微区成分分析,通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析,可确定样品的组成 。

送样要求
粉末样品:样品量≥2mg(磁性样品须委托方制样)
块体样品:L*W*H≤50mm*50mm*15mm
液体样品:样品量≥0.5ml
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