SU8200配置了Lower、Up-per和Top三个Everhart-Thornley型探测器，可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多种信号，可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，同时还可通过专用的背散射探头对金属、陶瓷样品的质厚衬度像进行进一步的表征分析，可用于纳米材料、金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观察，同时还可对材料断口和失效模式进行分析；微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成 。

粉末样品：样品量≥2mg（磁性样品须委托方制样）

块体样品：L*W*H≤50mm*50mm*15mm

液体样品：样品量≥0.5ml