- 英国雷尼绍Renishaw inVia参数：
- 光谱分辨率：全谱段 ≤ 2 cm-1
- 空间分辨率：横向1mm, 纵向2mm
- 灵敏度：S/N 10:1（硅三阶峰，约1440 cm-1）
- 光谱重复性：±0.2 cm-1
- 激光波长：532，632，785nm
- XYZ自动平移台：最小步长0.1μm，重复性0.2μm
- 扫描范围：532nm激发：100-8000cm-1；632.8nm激发：100-6000cm-1；785nm激发：100-3200 cm-1
适用范围
可进行材料拉伸性能，构相，结构，特性，污染分析以及现场应变测量晶粒取向和应力；催化剂组分，及氧化物分析，电化学腐蚀研究，地质矿物成份分析质量检验，成份分析等；适用于半导体工业，材料科学，生物，化学，地质，医药工业等领域研究。
送样要求
- 粉末样品≥20mg
- 薄膜样品厚度≥100nm
- 块状样品长宽≥2mm，高≤2cm
返 回
地址：北京市昌平区沙河青年创业大厦A座1210室
邮箱：erects@126.com
手机：15811059950
微信咨询