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  • 英国雷尼绍Renishaw inVia参数:
  • 光谱分辨率:全谱段 ≤ 2 cm-1
  • 空间分辨率:横向1mm, 纵向2mm
  • 灵敏度:S/N 10:1(硅三阶峰,约1440 cm-1)
  • 光谱重复性:±0.2 cm-1
  • 激光波长:532,632,785nm
  • XYZ自动平移台:最小步长0.1μm,重复性0.2μm
  • 扫描范围:532nm激发:100-8000cm-1;632.8nm激发:100-6000cm-1;785nm激发:100-3200 cm-1
适用范围

可进行材料拉伸性能,构相,结构,特性,污染分析以及现场应变测量晶粒取向和应力;催化剂组分,及氧化物分析,电化学腐蚀研究,地质矿物成份分析质量检验,成份分析等;适用于半导体工业,材料科学,生物,化学,地质,医药工业等领域研究。

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粉末样品≥20mg
薄膜样品厚度≥100nm
块状样品长宽≥2mm,高≤2cm
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