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蔡司Xridia Context具有大视野,非破坏性3D X射线计算机断层扫描系统。在完整3D环境中,对大型样品成像,获取样品3D数据。无需破坏样品,进行非破坏分析,识别内部缺陷,如孔隙率,裂缝,夹杂物,缺陷等。
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