蔡司Xridia Context具有大视野，非破坏性3D X射线计算机断层扫描系统。在完整3D环境中，对大型样品成像，获取样品3D数据。无需破坏样品，进行非破坏分析，识别内部缺陷，如孔隙率，裂缝，夹杂物，缺陷等。