注册 / 登录
检测服务 > 结构组成分析 > FIB-SEM测试 > 在线下单

价格：¥3500起

检测周期：5工作日




在线下单

  • FIB-SEM参数：
  • 品牌：卡尔蔡司
  • 型号：Crossbeam 350
  • 电子束流：5PA100nA
  • 分辨率：3nm@30KV
  • 探测器：lnlens SE、lnlens EsB、VPSE、SESL、STEM
适用范围

FIB-SEM是FIBA设备和扫描电镜的组合，在加工的同时进行观察，用于制备金属，陶瓷，半导体等高难度样品材料的透射电镜试样。通过离子束切割，对感兴趣的样品特征抛光，通过电镜对特征点进行成分和结构的观察分析。

送样要求
块状样品直径＜30mm
返 回
首页|检测服务|超清视频显微镜|关于我们|应用案例

咨询服务热线

010-57039025

© 2019 北京依维特技术服务有限公司 版权所有 京ICP备2020042470号

地址：北京市昌平区沙河青年创业大厦A座1210室

邮箱：erects@126.com

手机：15811059950

微信咨询
Top