价格:¥3500起

检测周期:5工作日




在线下单

  • FIB-SEM参数:
  • 品牌:卡尔蔡司
  • 型号:Crossbeam 350
  • 电子束流:5PA100nA
  • 分辨率:3nm@30KV
  • 探测器:lnlens SE、lnlens EsB、VPSE、SESL、STEM
适用范围

FIB-SEM是FIBA设备和扫描电镜的组合,在加工的同时进行观察,用于制备金属,陶瓷,半导体等高难度样品材料的透射电镜试样。通过离子束切割,对感兴趣的样品特征抛光,通过电镜对特征点进行成分和结构的观察分析。

送样要求
块状样品直径<30mm
返 回

咨询服务热线

010-57039025

© 2019 北京依维特技术服务有限公司 版权所有 京ICP备2020042470号

地址:北京市昌平区沙河青年创业大厦A座1210室

邮箱:erects@126.com

手机:15811059950

微信咨询
Top