价格:¥3500起
检测周期:5工作日
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FIB-SEM是FIBA设备和扫描电镜的组合,在加工的同时进行观察,用于制备金属,陶瓷,半导体等高难度样品材料的透射电镜试样。通过离子束切割,对感兴趣的样品特征抛光,通过电镜对特征点进行成分和结构的观察分析。
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